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Browsing by Author 眞田, 克

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Issue DateTitleAuthor(s)Journal Name
20-Jul-201403.I_DDQを用いた劣化兆候の検出とその成長過程の挙動眞田, 克高知工科大学紀要
31-Jul-2012LSIの品質はどのように保証されるか?眞田, 克高知工科大学紀要
29-Jun-2009LSIの評価・解析を通した大学と企業間の交流 -学生への品質意識向上の試み-眞田, 克高知工科大学紀要
15-Jul-2011LSIの進展に対する電源電流を用いた評価技術の推移眞田, 克高知工科大学紀要
15-Jul-2011レーザ照射によるオープン故障LSIの倫理の固定化眞田, 克; 安富, 泰輝高知工科大学紀要
29-Jun-2009基板バイアス効果とショート抵抗の導入による診断精度の向上 -電圧値ベースによる故障診断への適用-眞田, 克高知工科大学紀要
20-Jul-2013準静電界センシングによるLSI内部構造の評価眞田, 克; 伊藤, 誠吾高知工科大学紀要
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